簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "Automatic Test Equipment".ekeyword (精準) and cadvisor.raw="黃仁宏"


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    以現場可程式化閘陣列實現內建自我測試數位至時間轉換器
    • 電子工程系 /111/ 碩士
    • 研究生: 陳柔羽 指導教授: 陳伯奇 黃仁宏
    • 本論文設計一個具備寬動態範圍與高解析度三維數位至時間轉換器架構,同時提出一個以延遲迴繞法設計的時間至數位轉換器,組成一個具備內建自我測試(Built-In Self Test, BIST)電路的數位…
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    • 全文公開日期 2028/08/09 (校內網路)
    • 全文公開日期 2033/08/09 (校外網路)
    • 全文公開日期 2033/08/09 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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